1、輻射發(fā)射測試（RE）
測試電子、電氣和機電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射，包括來自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射，用來鑒定其輻射是否符合標準的要求，一致在正常使用過程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。

2、傳導騷擾測試(CE)

為了衡量設(shè)備從電源端口、信號端口向電網(wǎng)或信號網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)尿}擾。

3、靜電放電抗擾度測試(ESD)

測試單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電放電干擾能力，它模擬：操作人員或物體在接觸設(shè)備時的放電；人或物體對臨近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生以下后果：直接通過能量交換引起半導體器件的損壞、放電所引起的電場磁場變化，造成設(shè)備的誤動作。放電的噪聲電流導致器件的誤動作。

4、射頻輻射電磁場的抗擾度測試(RS)

對設(shè)備的干擾往往是設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用移動電話時所產(chǎn)生的，無線電臺、電視發(fā)射臺、移動無線電發(fā)射機和各種工業(yè)電磁輻射源，以及電焊機、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射，都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。測試的目的是建立一個共同的標準來評價電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場干擾能力。

5、快速瞬變脈沖群的抗擾度測試(EFT)

電路中機械開關(guān)對電感性負載的切換，通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。測試的機理是利用群脈沖產(chǎn)生的共模電流流過線路時，對線路分布電容能量的積累效應(yīng)，當能量積累到一定程度時就可能引起線路（乃至設(shè)備）工作出錯。通常測試設(shè)備一旦出錯，就會連續(xù)不斷的出錯，即使把脈沖電壓稍稍降低，出錯情況依然不斷的現(xiàn)象加以解釋。脈沖成群出現(xiàn)，脈沖重復頻率較高，波形上升時間短暫，能量較小，一般不會造成設(shè)備故障，使設(shè)備產(chǎn)生誤動作的情況多見。

6、浪涌抗擾度測試(SURGE)
雷擊主要模擬間接雷，如雷電擊中戶外線路，有大量電流流入戶外線路或接地電阻，產(chǎn)生干擾電壓。在線路感應(yīng)的電壓和電流，雷電擊中臨近物體產(chǎn)生電磁場，在線路上感應(yīng)的電壓和電流，雷擊中地面，地電流通過公共接地系統(tǒng)時所引入的干擾。
切換瞬變：主電源系統(tǒng)切換時產(chǎn)生的干擾，同一電網(wǎng)大型開關(guān)跳動時產(chǎn)生的干擾。

7、射頻場感應(yīng)的傳導抗擾度測試(CS)

通常情況下設(shè)備的引線的長度可能與干擾頻率的幾個波長相當，這些引線就可以通過傳導方式對設(shè)備產(chǎn)生干擾，沒有傳導電纜的設(shè)備不需要做此項測試。在通常情況下，被干擾設(shè)備的尺寸要比頻率較低的干擾波的波長小的多，相形之下，設(shè)備引線的長度可能達到干擾波的幾個波長，這樣，設(shè)備引線就變成被動天線，接受射頻場的感應(yīng)，變成傳導干擾入侵設(shè)備內(nèi)部，最終以射頻電壓電流形成的近場電磁場影響設(shè)備工作。

8、電壓跌落、斷時中斷和電壓漸變抗擾度測試(DIP)

電壓瞬間跌落、斷時中斷是由電網(wǎng)、變電設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化所引起的。電壓變化是由連接到電網(wǎng)中的負荷連續(xù)變化引起的。

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