材料的形貌分析是研究材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的重要手段,以下是關(guān)于其常用方法及應(yīng)用的介紹:
光學(xué)顯微鏡(OM)
掃描電子顯微鏡(SEM)
透射電子顯微鏡(TEM)
原子力顯微鏡(AFM)
以上是材料形貌分析的主要方法,在實(shí)際應(yīng)用中,通常需要綜合運(yùn)用多種方法,以全面、準(zhǔn)確地了解材料的形貌特征及其與性能之間的關(guān)系。
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