功率半導(dǎo)體概述
功率半導(dǎo)體是一種特殊的半導(dǎo)體器件,它們?cè)陔娏ο到y(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調(diào)節(jié)電力的流動(dòng),包括電壓和頻率的轉(zhuǎn)換,以及交流電(AC)和直流電(DC)之間的轉(zhuǎn)換。這種能力使得功率半導(dǎo)體在各種電力應(yīng)用中不可或缺,例如電力變換器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和電力調(diào)節(jié)器等。實(shí)驗(yàn)室作為專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu),提供全面的功率半導(dǎo)體測(cè)試服務(wù),確保這些器件在各種電力應(yīng)用中達(dá)到最佳性能。
功率半導(dǎo)體的應(yīng)用領(lǐng)域
功率半導(dǎo)體器件在多個(gè)領(lǐng)域中發(fā)揮著核心作用,尤其是在新能源、軌道交通、電動(dòng)汽車(chē)、工業(yè)應(yīng)用和家用電器等領(lǐng)域。隨著電動(dòng)汽車(chē)的快速發(fā)展,功率半導(dǎo)體器件市場(chǎng)迎來(lái)了爆炸式的增長(zhǎng)。在這些應(yīng)用中,功率半導(dǎo)體器件不僅需要提供高效率的電力轉(zhuǎn)換,還需要保證在惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。
功率半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試
為了確保功率半導(dǎo)體器件在各種電力轉(zhuǎn)換應(yīng)用中的穩(wěn)定性和可靠性,實(shí)驗(yàn)室提供了全面的測(cè)試和驗(yàn)證服務(wù)。這些服務(wù)包括對(duì)功率半導(dǎo)體器件進(jìn)行嚴(yán)格的性能測(cè)試和可靠性驗(yàn)證,以確保它們?cè)趯?shí)際應(yīng)用中的性能和耐用性。
功率循環(huán)測(cè)試簡(jiǎn)介
功率循環(huán)測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試,它模擬了功率半導(dǎo)體器件在實(shí)際運(yùn)行中的溫度波動(dòng)。這種測(cè)試通過(guò)讓芯片在間歇性通電的過(guò)程中產(chǎn)生熱量,從而使芯片溫度發(fā)生周期性變化。功率循環(huán)的周期通常在3到5秒之間,這種周期性的熱循環(huán)會(huì)對(duì)器件造成損傷,如綁線脫落、斷裂以及芯片焊層分離等。實(shí)驗(yàn)室在進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試時(shí),通過(guò)精確控制測(cè)試條件,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這種測(cè)試不僅能夠評(píng)估器件的耐久性,還能為后續(xù)的改進(jìn)提供重要數(shù)據(jù)支持。
功率循環(huán)測(cè)試的機(jī)理
功率循環(huán)測(cè)試的損傷機(jī)理主要涉及到銅綁線和芯片表面鋁層的熱膨脹系數(shù)不同,以及芯片熱膨脹系數(shù)與DBC(Direct Bonded Copper)板不同所導(dǎo)致的問(wèn)題。這些差異在溫度變化時(shí)會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部應(yīng)力,從而影響器件的長(zhǎng)期可靠性。
功率循環(huán)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
車(chē)規(guī)級(jí)功率模塊的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中,AQG324是由歐洲電力電子研究中心ECPE發(fā)布的一個(gè)常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)功率循環(huán)測(cè)試進(jìn)行了詳細(xì)的規(guī)定,包括對(duì)Tvj的數(shù)據(jù)測(cè)量方法、測(cè)試條件和測(cè)試流程等。實(shí)驗(yàn)室在進(jìn)行測(cè)試時(shí),必須實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)器件的關(guān)鍵參數(shù),如正向或飽和壓降Vce、結(jié)溫差ΔTvj和熱阻,這些參數(shù)是判定器件失效的關(guān)鍵。
功率循環(huán)測(cè)試的加載方法
業(yè)界的功率循環(huán)測(cè)試加載方法并不統(tǒng)一,不同的加載策略會(huì)對(duì)功率循環(huán)壽命產(chǎn)生影響。例如,有恒定的導(dǎo)通及關(guān)斷時(shí)間、恒定的殼溫Tc波動(dòng)、恒定的功率Pv和恒定的結(jié)溫Tj波動(dòng)等方法。這些方法通過(guò)調(diào)整導(dǎo)通時(shí)間、電流或功率來(lái)控制器件的溫度波動(dòng),以模擬實(shí)際應(yīng)用中的工作條件。
下一篇:IP防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)介紹及常見(jiàn)問(wèn)答
- 跌落與滾筒沖擊測(cè)試:模擬物流運(yùn)輸中對(duì)包裝及產(chǎn)品的損傷風(fēng)險(xiǎn)
- 插拔力與連接可靠性測(cè)試:評(píng)估電子接插件的長(zhǎng)期使用性能
- 氣味與VOC釋放測(cè)試:評(píng)估汽車(chē)內(nèi)飾或家居材料的環(huán)保與舒適性
- 恒溫恒濕存儲(chǔ)測(cè)試:考察產(chǎn)品在倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境下的性能穩(wěn)定性
- IP防水防塵等級(jí)驗(yàn)證:確認(rèn)外殼防護(hù)能力是否達(dá)標(biāo)
- 抗疲勞斷裂測(cè)試:評(píng)估金屬結(jié)構(gòu)在反復(fù)應(yīng)力下的失效風(fēng)險(xiǎn)與壽命預(yù)測(cè)
- 振動(dòng)與沖擊綜合測(cè)試:評(píng)估產(chǎn)品在運(yùn)輸和使用過(guò)程中的結(jié)構(gòu)完整性和功能保持
- 耐極端環(huán)境測(cè)試:驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫、低溫、高濕等極端條件下的可靠性表現(xiàn)
- 耐磨損測(cè)試:評(píng)估表面處理工藝對(duì)產(chǎn)品長(zhǎng)期使用性能的影響
- 電磁兼容性(EMC)測(cè)試:確保電子設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境中的可靠運(yùn)行


